Micro-XRF et TXRF

La spectrométrie de fluorescence de micro-rayons X (Micro-XRF) est la méthode de choix pour l'analyse élémentaire d'échantillons non homogènes ou de forme irrégulière ainsi que de petits échantillons. La spectrométrie de fluorescence X en Réflexion totale (TXRF) est une méthode bien établie pour l'analyse d'éléments traces sur divers échantillons.

M1 MISTRAL : Spectromètre Micro-XRF compact de table

Le M1 MISTRAL est un spectromètre Micro-XRF compact de table qui permet d'analyser les matériaux en vrac et les revêtements. Le spectromètre Micro-XRF M1 MISTRAL est conçu pour fonctionner rapidement et de manière rentable. Il fournit des informations précises sur la composition élémentaire des matériaux.

Le spectromètre Micro-XRF M1 MISTRAL permet d'obtenir une excellente résolution spatiale et opère avec des points dont la taille peut descendre jusqu'à 100 µm. Le spectromètre Micro-XRF M1 MISTRAL permet d'analyser des échantillons de forme arbitraire comme, par exemple, des bijoux des plus complexes, sans aucun préparatif supplémentaire et, ce qui est encore plus important, de manière non-destructive.

Le spectromètre Micro-XRF M1 MISTRAL fonctionne sur des échantillons dont la taille peut atteindre 100 x 100 x 100 mm³. Un vidéo-microscope à collimateur facilite l'identification du point exact où l'on souhaite effectuer des mesures. L'axe Z est motorisé, ce qui permet d'obtenir une mise au point rapide. L'axe X-Y-Z proposé en option permet de bénéficier d'une utilisation encore plus confortable.

Le spectromètre Micro-XRF M1 MISTRAL est équipé d'un tube à rayons X très lumineux et à micro-focalisation qui garantit une excellente excitation du point mesuré et donne un rendement élevé de la fluorescence. Grâce à sa série de logiciels puissants et d'emploi facile XSpect, cet instrument donne des résultats précis de quantification, aussi bien lors de l'analyse de matériaux en vrac que lors de l'examen de structures multicouches des plus compliquées.

M2 BLIZZARD : spectromètre Micro-XRF à petit spot

Le M2 BLIZZARD est un spectromètre Micro-XRF à petit spot qui est spécifiquement conçu pour l'analyse non destructive des cartes de circuits imprimés conformément aux normes ASTM B568 et DIN / ISO 3497.

La chambre à échantillon à fentes et le grand plateau supportent un positionnement rapide et précis de tous les types de cartes de circuits imprimés, des plus petites aux plus grandes, grâce au prolongement de la chambre à échantillon. Sa construction robuste permet au spectromètre Micro-XRF M2 BLIZZARD d'être utilisé dans l'atelier.

Le spectromètre Micro-XRF M2 BLIZZARD est équipé d'un détecteur en silicium haute performance qui convient à l'analyse de couches minces ainsi qu'à l'analyse de routine. Le puissant système de microscope vidéo fournit une fonction de mise au point automatique. La facilité d'utilisation est encore améliorée grâce au logiciel et à l'écran tactile en option.

Equipé de la dernière version des progiciels XSpect Pro et XData de Bruker, le spectromètre Micro-XRF M2 BLIZZARD est particulièrement intéressant pour l'analyse des multicouches métalliques communes aux cartes de circuits imprimés. Le spectromètre Micro-XRF M2 BLIZZARD peut caractériser la composition et l'épaisseur des cartes de circuits imprimés de 12 couches avec jusqu'à 25 éléments à analyser.

Les utilisateurs expérimentés peuvent utiliser la configuration du logiciel pour définir des méthodes de mesure adaptées aux échantillons à analyser. Ces méthodes peuvent ensuite être couramment utilisées par le personnel sur le site de production pour effectuer les analyses réelles pour le contrôle de la qualité. La mise en place et l'exécution de ces analyses sont intuitives, de sorte que la formation initiale du personnel est suffisante.

M4 TORNADO : Micro-XRF bidimensionnelle

Micro-XRF bidimensionnelle avec ce qui se fait de mieux en matière de vitesse et de précision

L'instrument de prédilection pour l'analyse sensible et non-destructive des éléments

Le spectromètre Micro-XRF M4 TORNADO est l'outil idéal pour la caractérisation des échantillons en procédant à une analyse par micro fluorescence à rayons X (Micro-XRF) sur un petit point. Optimisé en ce qui concerne la vitesse d'analyse et sans compromettre la précision, cet instrument mesure un large éventail d'échantillons (petits et grands et de formes régulières ou irrégulières) et fournit une multitude d'informations sur la composition et la distribution des éléments.

Équipé d'un grand plateau de chargement rapide, le spectromètre Micro-XRF M4 TORNADO peut réaliser l'analyse bidimensionnelle de pratiquement n'importe quel type d'échantillon (inorganique, organique et même liquide).

Fonctionnant sur des points dont la taille peut descendre jusqu'à 25 µm, une excellente résolution spatiale est garantie. Le logiciel d'analyse ESPRIT a fait ses preuves et permet de programmer des mesures flexibles et d'exploiter une grande panoplie d'outils d'évaluation et de traitement. Une grande chambre sous vide à échantillons permet la détection d'éléments lumineux.

Le spectromètre Micro-XRF M4 TORNADO peut être personnalisé afin d'offrir des plages élargies de mesure, voire même des analyses encore plus rapides ; la flexibilité peut être renforcée en installant un deuxième tube. En option, un deuxième détecteur SD renforce encore plus la vitesse.

Dans cette même gamme, il existe également le M4 TORNADOAMICS. Le Le spectromètre Micro-XRF M4 TORNADOAMICS combine l'analyse de distribution élémentaire haute résolution ultra rapide du spectromètre M4 TORNADO avec le puissant logiciel d'identification et de classification des minéraux AMICS (Advanced Mineral Identification and Characterization System).

Ainsi, des échantillons géologiques particulièrement volumineux, des carottes de forage, des échantillons à main ainsi que des sections minces peuvent facilement être analysés jusqu'à l'échelle micrométrique, ce qui fait du M4 TORNADOAMICS un système puissant dans les mines et les géosciences. Grâce à sa capacité à mesurer des échantillons non préparés à une pression faible à la pression atmosphérique, il fournit des résultats en phase minérale dans les délais les plus courts.

M6 JETSTREAM : le spectromètre Micro-XRF pour grande surface

La performance dans l'analyse des objets volumineux

Le Bruker M6 JETSTREAM est conçu pour l'analyse élémentaire non destructive de grands échantillons. La mobilité de l'instrument lui permet d'être placé sur le site de l'objet d'intérêt, que ce soit dans une galerie, un musée ou dans l'atelier.

Les paramètres de performance permettent des zones de balayage de 800 mm x 600 mm avec une taille de point variable jusqu'à 100 μm et des vitesses allant jusqu'à 100 mm / s. Comme le système est capable de mesurer «à la volée», cela se traduit par un temps de pause de pixel aussi court que 1 ms.

Analyse de la distribution des éléments pour les échantillons volumineux présentant les meilleures performances 

  • Le banc de mesure M6 JETSTREAM peut être incliné, ce qui permet de balayer les échantillons horizontalement ou verticalement.
  • La taille du spot du M6 JETSTREAM peut être adaptée en cinq étapes pour correspondre à la structure de l'échantillon et à la résolution spatiale souhaitée.
  • Les détecteurs de silicium XFlash® (SDD) avancés de Bruker sont utilisés pour la détection du rayonnement de fluorescence. Ils disposent d'une capacité de comptage élevée et d'une meilleure résolution d'énergie sur une large plage de taux de comptage.
  • Des circuits de sécurité spéciaux assurent une protection optimale de l'utilisateur contre l'exposition aux rayons X.
  • La mesure de distance ultrasonore protège contre la collision avec l'objet de mesure.
  • Indépendamment de la taille de l'échantillon, le M6 JETSTREAM peut être facilement positionné en raison de sa mobilité.
  • Il peut être démonté en quatre parties ce qui le rend transportable.

S2 PICOFOX : Le premier spectromètre TXRF au monde pour l'analyse des traces

Le spectromètre TXRF S2 PICOFOX est le premier spectromètre portable de table au monde conçu pour réaliser la micro-analyse quantitative et semi-quantitative rapide d'éléments multiples dans des liquides, suspensions, solides et contaminations en faisant appel au principe de la spectroscopie à fluorescence X à réflexion totale (TXRF).

En mesure d'atteindre des limites de détection se situant dans les plages du ppb et ppm, le spectromètre TXRF S2 PICOFOX offre des fonctionnalités optimales lors de l'analyse de traces d'éléments. Ses avantages sont évidents en ce qui concerne les échantillons de faible taille, les échantillons liquides à forte teneur matricielle et les types d'échantillons qui changent fréquemment.

Du fait de son indépendance totale par rapport à tout milieu de refroidissement, le spectromètre TXRF S2 PICOFOX peut s'utiliser en laboratoire et également pour des analyses sur site, sur le terrain.

En ce qui concerne de nombreuses applications, le spectromètre TXRF S2 PICOFOX va représenter une amélioration conséquente par rapport à un système AAS ou ICP-OES existant.

Les principaux avantages par rapport à un système AAS ou ICP-OES

  • L'analyse simultanée de traces d'éléments multiples (dont les halogénures)
  • L'analyse des échantillons les plus petits, dans la plage des nanogrammes ou des microgrammes
  • Une quantification simple faisant appel à une norme interne
  • Convient à divers types d'échantillons et applications
  • Système portable permettant des analyses rapides sur le terrain
  • Pas d'effets de matrice ou de mémoire
  • Faibles coûts d'exploitation ; pas besoin de support, d'éléments jetables ou d'entretien périodique

S4 T-STAR : Spectromètre TXRF haute performance pour l'analyse d'éléments ultra-traces

Spectromètre TXRF rapide et rentable - une véritable alternative à l'ICP

La spectrométrie de fluorescence des rayons X en Réflexion Totale (TXRF) est une méthode bien établie pour l'analyse des éléments traces d'une variété d'échantillons. Le spectromètre TXRF S4 T-STAR simplifie pour un fonctionnement de routine 24/7 avec une qualité de données garantie. Des améliorations significatives des limites de détection sont accompagnées de procédures de CQ automatiques, de routines logicielles utiles et d'une polyvalence unique en termes de types d'échantillons et de supports.

Vos avantages

  • Le spectromètre TXRF de table S4 T-STAR offre les limites de détection les plus basses dans la plage sub-ppb.
  • Les fonctions de contrôle automatique de la qualité garantissent la fiabilité des données et la qualité de l'instrument.
  • Polyvalence maximale pour une analyse directe de nombreux types d'échantillons sur différents supports.
  • Optimisé pour un fonctionnement 24/7 dans l'analyse de routine industrielle.
  • Conçu pour un fonctionnement multi-utilisateur avec une capacité élevée de 90 échantillons.
  • Une sélection de plateaux d'échantillons et d'autres outils accélère la préparation des échantillons et minimise les risques d'erreurs et de contamination.

Pas d'inquiétude à propos des nouveaux règlements pharmaceutiques, alimentaires et environnementaux

  • Le spectromètre TXRF S4 T-STAR est un outil puissant pour la prévention de la fraude alimentaire dans les chaînes d'approvisionnement mondialisées. Par exemple : sécurité alimentaire selon les normes FAO / OMS, réalisée par analyse directe des faibles teneurs en As dans le riz.
  • Le spectromètre TXRF S4 T-STAR surveille les éléments catalyseurs dans la production pharmaceutique conformément aux lignes directrices américaines et européennes en vigueur en matière de pharmacopée. Par exemple : détection d'éléments catalyseurs sous-ppm dans des ingrédients pharmaceutiques actifs (API) et des additifs.
  • Le spectromètre TXRF S4 T-STAR fournit une solution polyvalente pour l'analyse de l'eau, des effluents, de l'air et du sol pour la récupération d'un environnement sain. Par exemple : surveillance de l'environnement par la mesure directe des contaminants dans les eaux usées, les boues et les effluents dans la plage de faible ppb.

Polyvalence exceptionnelle de l'échantillon

Le spectromètre TXRF S4 T-STAR est un outil très polyvalent pour l'analyse d'une grande variété de types d'échantillons sur différents supports réfléchissants. Cela le met en avant de l'ICP, qui nécessite des échantillons de liquide entièrement dissous.

ARTAX : le spectromètre portable μ-XRF

Le spectromètre portable μ-XRF ARTAX a été conçu pour réaliser des analyses sur place d'objets de valeurs ou stationnaires.

ARTAX est le premier spectromètre portable µ-XRF disponible dans le commerce et conçu pour faire face aux besoins d'une analyse spectroscopique d'objets uniques et de valeur sur place (à savoir dans les secteurs de l'archéométrie et de l'histoire de l'art.

Le spectromètre portable µ-XRF ARTAX effectue une analyse portant simultanément sur plusieurs éléments se situant entre le sodium Na (11) et l'uranium U (92) et atteint une résolution spatiale pouvant descendre jusqu'à 70 µm.

Chaque mesure est non-destructive et sans contact et n'endommage pas les objets ainsi étudiés. Le spectromètre portable µ-XRF ARTAX se programme et est opérationnel en 30 minutes. Une alimentation secteur normale est la seule obligation pour faire fonctionner le spectromètre portable µ-XRF ARTAX.

En fonction de l'application recherchée et du budget disponible, plusieurs versions à configurations différentes de ce spectromètre portable µ-XRF sont proposées. Chaque version offre des fonctionnalités et convivialités différentes.

ELIO : Spectromètre Micro-XRF portable

La solution portable de fluorescence X pour l'analyse élémentaire de grands objets.

L'ELIO est un spectromètre de fluorescence X à dispersion d'énergie compact et portable pour une analyse élémentaire fiable sans contact et non destructive de matériaux de valeur.

ELIO offre de grandes performances et une précision extrême dans les applications les plus exigeantes. 

L'écran du logiciel ELIO est configurable par l'utilisateur et affiche le spectre et la concentration de l'élément pendant l'exécution de l'acquisition. Dans le même écran, l'utilisateur peut surveiller d'autres informations techniques ainsi que l'image échantillon prise par les caméras vidéo.

La conception compacte de la tête de mesure montée sur un trépied en aluminium léger rend l'ELIO idéal pour une utilisation mobile. Le poids total de la tête de mesure est de seulement 2,1 kg. Plusieurs options de trépied sont disponibles pour répondre aux différentes exigences des utilisateurs. Une platine XY motorisée compacte en option fournit une solution de cartographie portative sur le terrain.

Mesures sans contact faciles et rapides

L'ELIO présente un design simple et élégant avec un spot d'analyse de 1 mm positionné au laser, une caméra interne et une électronique innovante. La tête de mesure est montée sur un trépied avec deux étages motorisés pour effectuer une acquisition de carte élémentaire. Son museau étroit permet d'accéder à des points de mesure difficiles à atteindre. Le détecteur SDD avec technologie CUBE fournit un excellent débit et un excellent rapport signal / bruit, ce qui garantit une analyse très rapide avec une excellente résolution énergétique.

CRONO : Spectromètre Micro-XRF mobile à grande surface

Conçu pour l'examen in situ, non destructif et très rapide de gros objets

CRONO est un scanner micro-XRF rapide, mobile et configurable pour les applications du patrimoine culturel. Les composants XRF sont entièrement intégrés dans une tête de mesure compacte et permettent la détection d'éléments dans la plage de Na à U avec une bonne efficacité même dans les plages d'énergie inférieures à 2 keV et supérieures à 25 keV (Sn, Sb et Ba K-edge émissions).

La tête de mesure est montée sur une platine motorisée permettant une zone de balayage jusqu'à 60 cm x 45 cm. Le châssis motorisé et l'unité de support peuvent être facilement démontés pour le transport.

Le scanner micro-XRF CRONO peut être transformé en un appareil portable XRF en installant la tête de mesure sur un trépied léger. L'instrument fonctionne en mode sans contact complet à 1 cm de l'échantillon. La zone d'analyse est toujours sous contrôle grâce à plusieurs systèmes de surveillance.