Plates-formes à capteurs multiples Altisurf
La nouvelle gamme Altisurf d’analyseurs métrologiques de surfaces en 2D et 
en 3D est optimisée pour la caractérisation et l’étude de la microrigidité des surfaces et des revêtements, ainsi que des éléments mécaniques et chimiques utilisés dans le cadre des processus de production. Il est également possible d’étudier les performances et la qualité finales, telles qu’elles sont accessibles à un utilisateur final, en fonction de paramètres tels que l’usure, la porosité, la suture, etc.
Appareils pour la caractérisation des surfaces
Les appareils Altisurf sont toujours composés d’un poste de travail de laboratoire avec un capteur optique, un contrôleur de mouvements, des tables axiales ou rotatives et un logiciel d’analyses microtopographiques. Altisurf est utilisé pour la recherche en laboratoire et pour le contrôle qualité automatisé : du système standard à la solution clé en main.
Technologie à capteurs multiples
Alftisurf propose des mesures haute résolution avec différentes sondes pour les mesures à capteurs multiples automatiques :
- Sondes optiques confocales (avec aberration lumineuse chromatique)
- Sondes interférométriques
- Triangulation laser
- Capteur de stylet
- Sondes de contact à microforce
- Caméra à dispositif à transfert de charge (zoom automatique)
Les cadres de test Altisurf sont composés d’un cadre en granit avec table d’échantillon et capteur(s) calibré(s) conformément aux normes ISO-COFRAC pour la linéarisation des signaux.
Logiciel
Altimap est une norme industrielle de premier ordre en matière d’analyse topographique. Tous les paramètres de caractérisation en 2D et en 3D standard peuvent être intégrés à des rapports de mesure pratiques. Les profils mesurés peuvent également être convertis à l’aide de polynômes, d’ajustements optimaux, etc., pour la représentation numérique des données enregistrées.