NaioAFM

NaioAFM : le microscope à force atomique tout-en-un pour les petits échantillons

Le microscope à force atomique NaioAFM est un système très robuste et de haute qualité. Aucune configuration n'est nécessaire pour son utilisation, il suffit juste de le brancher !

Le microscope à force atomique NaioAFM est idéal pour la mesure des petits échantillons. Plus que le successeur du bien connu Easyscan 2, ce microscope à force atomique tout-en-un offre des performances solides et une manipulation facile, pour un prix qui défie toute concurrence.

Le NaioAFM est un AFM tout-en-un car il possède une tête de balayage, un contrôleur, un porte échantillon, un micromètre pour la table de positionnement, une solution anti-vibration et un système de mesure d'enceinte acoustique. 

NaioSTM

NaioSTM : le microscope à effet tunnel tout-en-un pour découvrir facilement le monde des atomes

Le NaioSTM est le successeur du microscope à effet tunnel, bien connu sous le nom d'Easyscan 2. Le NaioSTM associe une tête de balayage et un contrôleur dans un instrument unique, ce qui lui apporte une plus grande facilité d'installation, d'utilisation et de transportabilité.

La configuration du système est très robuste contre les vibrations. Ce microscope à effet tunnel peut être utilisé dans l'enseignement. Grâce à son contrôleur intégré, ce microscope à effet tunnel compact, convivial et abordable est très peu encombrant.

Avantages du NaioSTM 

  • Résolution atomique en quelques minutes
  • Manipulation extrêmement simple et fonctionnement fiable
  • Contrôleur et tête de balayage intégré dans un seul appareil : il suffit juste de le brancher sur secteur et de le connecter par USB
  • Prix très attractif

NaniteAFM

NaniteAFM : le microscope à force atomique compact et montable pour la mesure de grands échantillons

Le faible encombrement sans précédent de la tête de balayage NaniteAFM fait de ce microscope à force atomique un système idéal pour l'intégration dans des environnements industriels automatisés.

Avec une résolution inférieure au nanomètre, le microscope à force atomique NaniteAFM est capable de détecter et de visualiser les plus petites structures de surface. Sa manipulation simple et sa multitude de possibilités d'intégration apportent un niveau d'excellence à vos analyses.

Le microscope à force atomique NaniteAFM permet notamment de vérifier les revêtements des structures et leurs irrégularités, mesurer la rugosité de surface des matériaux traités ou non, utiliser des modes de mesure de l'AFM supplémentaires pour détecter les caractéristiques qui ne sont pas visibles dans la topographie seule.

Sa facilité d'utilisation et sa reproductibilité font du NaniteAFM l'outil de contrôle de qualité parfait pour l'ingénierie de précision, l'optimisation des processus de production ou encore la fabrication de semi-conducteurs, pour n'en citer que quelques-uns.

LensAFM

LensAFM : la solution pour étendre la résolution de votre microscope optique ou profilomètre 3D

Le système LensAFM est un microscope à force atomique qui peut être utilisé en tant que lentille d'objectif normale sur presque tous les microscopes optiques ou profilomètres.

Le microscope à force atomique LensAFM étend considérablement la résolution et les capacités de mesure de ces instruments. Le LensAFM fournit non seulement des informations de topographie de surface en 3D, mais il peut être aussi utilisé pour analyser les différentes propriétés physiques d'un échantillon de mesure.